兒童智力測(cè)試儀智力測(cè)驗(yàn)
兒童智力測(cè)試儀給孩子一個(gè)心理教育評(píng)估最延伸智商測(cè)試，從韋氏系列智能尺度的孩子。本試驗(yàn)評(píng)估范圍的能力，找出全球智力功能的水平。在被分成幾個(gè)子測(cè)試。每個(gè)分測(cè)驗(yàn)有助于發(fā)現(xiàn)孩子的個(gè)人的長(zhǎng)處和短處，他或她的傾向。這個(gè)智商測(cè)試為天才兒童，有助于評(píng)估智力和他或她的個(gè)人智能機(jī)型的總體水平。但是，正如許多科學(xué)家認(rèn)為，它是不可靠的，當(dāng)它涉及兒童的智力非常高或非常低的水平。在兒童智力測(cè)試儀是用于識(shí)別智能模式在資優(yōu)的孩子，以及一個(gè)LD孩子中層情報(bào)非常有用。
當(dāng)使用這種測(cè)試朝著最有天賦的孩子，你不會(huì)有精確的結(jié)果。本次測(cè)試的作者，D.韋克斯勒創(chuàng)造了這個(gè)測(cè)試的孩子平均智力水平。它不適用于智能計(jì)量的極端。對(duì)于最有天賦的孩子成績(jī)超過(guò)WISC-Ⅲ尺度的限制。而且也沒(méi)有機(jī)會(huì)來(lái)界定孩子的特殊優(yōu)勢(shì)和劣勢(shì)或確定最高恩賜水平。許多研究者使用WISC-III的情況下，兒童智力測(cè)試儀如果他們假定一個(gè)有天賦的孩子可能有學(xué)習(xí)障礙。如果他們希望有一個(gè)學(xué)齡孩子的數(shù)學(xué)能力或視覺(jué)空間能力水平正確的水平，他們使用的SB：四。但本試驗(yàn)也有相同的低天花板作為WISC-III。這些測(cè)試是不是弱智或有天賦的人非常有用。它們是臨床測(cè)試。
