兒童智力測試儀可調(diào)節(jié)高度智力測試裝置

　　技術(shù)領(lǐng)域

　　兒童智力測試儀技術(shù)領(lǐng)域，尤其涉及一種高度可調(diào)節(jié)的兒童智力測試裝置。

　　背景技術(shù)

　　兒童智力測試儀是指通過儀器檢測，然后進行指標指數(shù)分析，測算兒童智力發(fā)展情況。

　　采用卡接方式對測試儀進行高度調(diào)節(jié)，但這種調(diào)節(jié)方式十分不穩(wěn)定，當彈簧頂珠與凹槽分離后，需要人工手動托住測試儀，然后上下移動測試儀，十分麻煩，兒童自身很難對其進行調(diào)節(jié)，需要借助家長或其他工作人員進行調(diào)節(jié)，實用性低，而且凹槽之間存在一定距離，每次調(diào)節(jié)后，不一定能夠?qū)�準凹槽進行卡接，調(diào)節(jié)十分費力，而且還無法對測試儀進行角度調(diào)節(jié)，為此，我們提出了一種高度可調(diào)節(jié)的兒童智力測試裝置。

　　實用新型內(nèi)容

　　兒童智力測試儀目的是為了解決現(xiàn)有技術(shù)中存在的缺點，而提出的一種高度可調(diào)節(jié)的兒童智力測試裝置。

　　為了實現(xiàn)上述目的，本實用新型采用了如下技術(shù)方案：

　　兒童智力測試儀高度可調(diào)節(jié)的兒童智力測試裝置，包括支撐座，所述支撐座的頂端焊接有垂直設(shè)置的第一支撐板，第一支撐板的頂端開設(shè)有矩形結(jié)構(gòu)的第一凹槽，第一凹槽的兩側(cè)側(cè)壁滑動連接有第二支撐板，第二支撐板的一側(cè)側(cè)壁開設(shè)有通孔，通孔的一側(cè)側(cè)壁連接有齒條，所述第一凹槽的一側(cè)側(cè)壁連接有軸承座，軸承座的內(nèi)部連接有轉(zhuǎn)軸，轉(zhuǎn)軸遠離軸承座的一端穿過通孔延伸至第一凹槽外部焊接有轉(zhuǎn)板，所述轉(zhuǎn)軸的外部焊接有第一齒輪，第一齒輪與齒條之間嚙合，所述第二支撐板的頂端焊接有第一固定板，第一固定板的頂端開設(shè)有第二凹槽，第二凹槽的兩側(cè)側(cè)壁之間轉(zhuǎn)動連接有從動軸，且第二凹槽內(nèi)部設(shè)置有角度調(diào)節(jié)裝置，所述從動軸的側(cè)壁焊接有第二固定板，第二固定板的頂端焊接有第三固定板，第三固定板的一側(cè)側(cè)壁連接有測試儀本體。

　　兒童智力測試儀角度調(diào)節(jié)裝置包括安裝在第二凹槽側(cè)壁轉(zhuǎn)動連接的主動軸，主動軸的另一端延伸至第二凹槽外部焊接有轉(zhuǎn)盤，所述主動軸的外部側(cè)壁焊接有第二齒輪，所述從動軸的外部側(cè)壁焊接有第三齒輪，且第二齒輪和第三齒輪嚙合，所述第二齒輪和第三齒輪均設(shè)置在第二凹槽內(nèi)部。

　　兒童智力測試儀轉(zhuǎn)盤的側(cè)壁沿其長度方向焊接有擋塊，且轉(zhuǎn)盤的側(cè)壁開設(shè)有防滑紋。

　　兒童智力測試儀測試儀本體的豎截面為長條形，且測試儀本體與第一支撐板平行設(shè)置。

　　兒童智力測試儀第三固定板與第二固定板之間垂直設(shè)置。